Akkreditierte Analytik Fraunhofer ISC
© Fraunhofer ISC

Akkreditierte Analytik

Das Zentrum für Angewandte Analytik ZAA ist nach DIN EN ISO/IEC 17025:2018 akkreditiert sowie RAL- bzw. EUCEB-Prüflabor für Mineralwolle.
 

Somit stehen Ihnen im akkreditierten Bereich nachfolgend genannte, insbesondere auf anorganische Materialien spezialisierte Prüfverfahren zur Verfügung.

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Akkreditierte chemische Analytik
von anorganischen Materialien und Werkstoffen#

Im seit mehr als zehn Jahren akkreditierten Bereich der chemischen Analytik bietet das Fraunhofer ISC präzise Analysen und Prüfungen von anorganischen Materialien und Werkstoffen an.
Eine langjährige Erfahrung bei nasschemischen Aufschlüssen rundet das Angebot ab.

Chemische Analytik - Anorganische Werkstoffe
© K. Dobberke für Fraunhofer ISC
Chemische Analytik - Glas
© K. Dobberke für Fraunhofer ISC

Wichtigste
Prüfmethoden

  • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
  • Optische Emissionsspektrometrie durch induktiv gekoppeltes Plasma (ICP-OES)
  • Nasschemische Aufschlussverfahren



  • Titrimetrie
  • Gravimetrische Kieselsäurebestimmung
  • Glühverlust

Angebote

  • RAL- und EUCEB-Mineralfaserprüfungen
  • Prüfung der hydrolytischen Beständigkeit gemäß ISO 719, DIN EN ISO 4802, EP und USP
  • Schwermetall-/Boranalytik von Baustoffen
  • Analyse von Gläsern, Glaskeramiken und Keramiken
  • Fe(II)/Fe(III)- sowie Cr(VI)-Bestimmung

Mineralwolle - geprüft und energiesparend

Energie sparen und CO2-Emissionen senken: die gesundheitliche Unbedenklichkeit von Mineralwolle-Dämmstoffen sichern in der EU Prüfungen nach RAL- und EUCEB-Richtlinien.

Ihr Ansprechpartner#

Stefan Maisch

Contact Press / Media

Dr. Stefan Maisch

Leiter Chemische Analytik

Fraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC
Neunerplatz 2
97082 Würzburg

Telefon +49 931 4100-245

Fax +49 931 4100-299

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Akkreditierte chemische Oberflächenanalytik#

Akkreditierte Oberflächenanalytik
© K. Dobberke für Fraunhofer ISC

Die Oberflächen von Materialien sind bei vielen Anwendungen von besonderer Bedeutung. Haptik, Optik, Korrosionsverhalten, elektrische Leitfähigkeit, Benetzungsverhalten, Haftung und viele andere Eigenschaften werden dabei maßgeblich von der Chemie an der Oberfläche bestimmt. Diese können wir mit Hilfe moderner Verfahren wie XPS oder REM untersuchen.
Ein weiterer wichtiger Aspekt ist die Beurteilung der Sauberkeit. Sie ist z. B. für optische Bauteile oder für die Verpackung von medizinischen und pharmazeutischen Produkten entscheidend. Hier spielt die Analyse von Kontaminationen und ihre Herkunft eine wichtige Rolle.

Wichtigste
Prüfmethoden

Oberflächensensitive Messmethoden:

  • Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
    (XPS bzw. ESCA)
  • ToF-SIMS und SNMS stehen über akkreditierte Kooperationspartner zur Verfügung

Angebote

  • Bestimmung der Oberflächenzusammensetzung im niedrigen Nanometerbereich
  • Identifizierung von Oberflächenverunreinigungen und Ablagerungen

Ihr Ansprechpartner#

Alexander Reinholdt

Contact Press / Media

Dr. Alexander Reinholdt

Leiter Zentrum für Angewandte Analytik

Fraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC
Neunerplatz 2
97082 Würzburg

Telefon +49 931 4100-260

Fax +49 931 4100-299

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Akkreditierte Elektronenmikroskopie#

Akkreditierte Elektronenmikroskopie
© K. Dobberke für Fraunhofer ISC

Grundlage der Analyse des Materialaufbaus ist die Untersuchung mittels elektronenmikroskopischer Verfahren. Die Abbildung der Topographie und der Materialzusammensetzung von der Millimeter- bis hinab auf die Nanometerskala führt zu einem umfassenden Verständnis des Materialaufbaus.

Am Fraunhofer ISC stehen verschiedene Elektronenmikroskope mit vielfältigen Analysemöglichkeiten zur Verfügung. Die Bedienung erfolgt durch wissenschaftlich ausgebildetes Personal. Besondere Schwerpunkte liegen auf der möglichst artefaktfreien Materialpräparation als Schlüsseltechnologie zur aussagekräftigen Analytik sowie auf dem Mikrolabor im REM, in dem Materialeigenschaften in situ auf der Mikrometerskala gemessen werden können.

Wichtigste
Prüfmethoden

  • Hochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie
  • Höchstauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
  • Ionenstrahlpräparation zur Materialpräparation im Mikroskop



  • Messung der elektrischen Leitfähigkeit
  • Mechanische Drucktests
  • Cryo-Mikroskopie

Angebote

  • Hochauflösende Darstellung der Ober- und Querschnittsfläche eines Materials
  • Darstellung der Morphologie von Partikeln
  • Elementanalyse einzelner Partikel oder auch des Gesamtmaterials


  • Bestimmung von Materialkenngrößen, auch unter Vergrößerung (z. B. Druckverhalten)
  • Interpretation der Ergebnisse unter Berücksichtigung der Fragestellung

Ihre Ansprechpartner#

Jürgen Meinhardt

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Dr. Jürgen Meinhardt

Leiter Cluster Dienstleistungen

Fraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC
Neunerplatz 2
97082 Würzburg

Telefon +49 931 4100-202

Fax +49 931 4100-299

Alexander Reinholdt

Contact Press / Media

Dr. Alexander Reinholdt

Leiter Zentrum für Angewandte Analytik

Fraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC
Neunerplatz 2
97082 Würzburg

Telefon +49 931 4100-260

Fax +49 931 4100-299